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pcb表面绝缘阻抗测试,SIR表面绝缘阻抗测试 |
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电子制造业：SIR表面绝缘电阻测试和CAF离子迁移测试是两项非常重要的测试方法，可以帮助生产商评估电子元件的质量和可靠性，并及时发现潜在的故障和缺陷。
采用合适的统计方法对测试数据进行处理和分析，以评估SIR测试的可靠性。例如，可以采用平均值、标准差等统计指标来分析测试数据。
优尔鸿信检测技术（深圳）有限公司（原富士康华南检测中心）成立于1996年，配合高科技电子产品设计、验证、生产过程中的检测需求组建科技实验室，创始团队汇集科技、凭借雄厚的技术背景和开拓创新精神，在一张白纸上点石成金。优尔鸿信检测迄今发展成目大功能22个的实验室，占地6.6万平方米，主要检测设备4300余台(套) ， 拥有1500人的管理、技术人员团队，打造了一个提供快速、精密、准确检测能力、服务网络遍及全国的大型旗舰实验室。于2003年取得中国国家合格评定(CNAS) 的初次认可。实现『一份报告、通行』
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