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仪器简介
三坐标测量仪是指在一个六面体的空间范围内，能够表现几何形状、长度及圆周分度等测量能力的仪器，又称为三坐标测量机或三坐标量床。三坐标测量仪又可定义“一种具有可作三个方向移动的探测器，可在三个相互垂直的导轨上移动，此探测器以接触或非接触等方式传递讯号，三个轴的位移测量系统（如光栅尺）经数据处理器或计算机等计算出工件的各点（x，y，z）及各项功能测量的仪器”。三坐标测量仪的测量功能应包括尺寸精度、定位精度、几何精度及轮廓精度等 [1] 。
机型介绍
结构型式：三轴花岗岩、四面全环抱的德式活动桥式结构
传动方式：直流伺服系统 + 预载荷空气轴承
长度测量系统：RENISHAW开放式光栅尺，分辨率为0.1μm
测头系统：雷尼绍控制器、雷尼绍测头、雷尼绍测针
机 台：（00级）花岗岩平台
使用环境：温度(20±2)℃，湿度40%-70% ，温度梯度1℃/m，温度变化 1℃/h
空气压力：0.4 MPa - 0.6 Mpa
空气流量：25 L/min
长度精度MPEe： ≤2.1+L/350 (μm)
探测球精度MPEp： ≤2.1μm

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按三坐标测量仪结构可分为如下几类：
1.移动桥架型(Movingbridgetype)
移动桥架型，为常用的三坐标测量仪的结构，轴为主轴在垂直方向移动，厢形架导引主轴沿水平梁在方向移动，此水平梁垂直轴且被两支柱支撑于两端，梁与支柱形成“桥架”，桥架沿着两个在水平面上垂直和轴的导槽在轴方向移动。因为梁的两端被支柱支撑，所以可得到小的挠度，且比悬臂型有较高的精度。
2.床式桥架型(Bridgebedtype)
床式桥架型，轴为主轴在垂直方向移动，厢形架导引主轴沿着垂直轴的梁而移动，而梁沿着两水平导轨在轴方向移动，导轨位于支柱的上表面，而支柱固定在机械本体上。此型与移动桥架型一样，梁的两端被支撑，因此梁的挠度为少。此型比悬臂型的精度好，因为只有梁在轴方向移动，所以惯性比全部桥架移动时为小，手动操作时比移动桥架型较容易。
3.柱式桥架型(Gantrytype)
柱式桥架型，与床式桥架型式比较时，柱式桥架型其架是直接固定在地板上又称为门型，比床式桥架型有较大且更好的刚性，大部分用在较大型的三坐标测量仪上。各轴都以马达驱动，测量范围很大，操作者可以在桥架内工作。
4.固定桥架型(Fixedbridgetype)
固定桥架型，轴为主轴在垂直方向移动，厢形架导引主轴沿着垂直轴的水平横梁上做方向移动。桥架(支柱)被固定在机器本体上，测量台沿着水平平面的导轨作轴方向的移动，且垂直于和轴。每轴皆由马达来驱动，可确保位置精度，此机型不适合手动操作。
5.L形桥架型(L-Shpaedbridgetype)
L形桥架型，这个设计乃是为了使桥架在轴移动时有小的惯性而作的改变。它与移动桥架型相比较，移动组件的惯性较少，因此操作较容易，但刚性较差。
6.轴移动悬臂型(Fixedtablecantileverarmtype)
轴移动悬臂型，轴为主轴在垂直方向移动，厢形架导引主轴沿着垂直轴的水平悬臂梁在轴方向移动，悬臂梁沿着在水平面的导槽在轴方向移动，且垂直于轴和轴。此型为三边开放，容易装拆工件，且工件可以伸面即可容纳较大工件，但因悬臂会造成精度不高。
7.单支柱移动型(Movingtablecantileverarmtype)
单支柱移动型，轴为主轴在垂直方向移动，支柱整体沿着水平面的导槽在轴上移动，且垂直轴，而轴连接于支柱上。测量台沿着水平面的导槽在轴上移动，且垂直轴和轴。此型测量台面、支柱等具很好的刚性，因此变形少，且各轴的线性刻度尺与测量轴较接近，以符合阿贝定理。
8.单支柱测量台移动型(Singlecolumnxytabletype)
单支柱测量台移动型，轴为主轴在垂直方向移动，支柱上附有轴导槽，支柱被固定在测量仪本体上。测量时，测量台在水平面上沿着轴和轴方向作移动。
9.水平臂测量台移动型(Movingtablehorizontalarmtype)
水平臂测量台移动型，厢形架支撑水平臂沿着垂直的支柱在垂直(轴)的方向移动。探头装在水平方向的悬臂上，支柱沿着水平面的导槽在轴方向移动，且垂直轴，测量台沿着水平面的导槽在轴方向移动，且垂直于轴和轴。这是水平悬臂型的改良设计，为了消除水平臂在轴方向，因伸出或缩回所产生的挠度。
10.水平臂测量台固定型(Fixedtablehorizontalarmtype)
水平臂测量台固定型，其构造与测量台移动型相似。此型测量台固定，、轴均在导槽内移动，测量时支柱在轴的导槽移动，而轴滑动台面在垂直轴方向移动。
11.水平臂移动型(Movingramhorizotalarmtype)
水平臂移动型，轴悬臂在水平方向移动，支撑水平臂的厢形架沿着支柱在轴方向移动，而支柱垂直轴。支柱沿着水平面的导槽在轴方向移动，且垂直轴和轴，故不适合的测量。除非水平臂在伸出或回收时，对因重量而造成的误差有所补偿。大多数情况应用在车辆检验工作。
12.闭环桥架型(Ringbridgetype)
闭环桥架型，由于它的驱动方式在工作台中心，可减少因桥架移动所造成冲击，为所有三坐标测量仪中稳定的一种

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直读光谱仪金属和合金样品分析 
直读光谱仪工作者使用直读光谱仪进行金属和合金样品分析的时候，需要完成两项任务。其一，做好样品分析前的准备工作；其二，完成金属和合金样品分析的任务。由于国内直读光谱仪的类型较多，不可能都给予介绍。
分析前的准备
启动光谱仪
当您进入光谱室，准备分析，要启动直读光谱仪。其操作步骤为：
（1)启动光谱室的供电电源，检查交流供电220VAC±10%。；
（2）启动直读光谱仪的电源开关。
直读光谱仪应保持24h都通电。即使在节假日，也不要停电，一旦停电后，可能要经过较长时间才能得到好的分析结果。仪器长期通电，光谱仪的高压开关一定要加上，长期保持光电倍增管的工作状态。
开启真空泵阀门
接通光谱仪电源开关之后，真空泵被启动。
注意：真空泵的阀门不要急于打开，真空泵工作几分钟之后，才能打开真空泵阀门。下能光谱仪一启动，立即打开真空泵阀门。防止当真空室处于真空状态，而真空泵泵体处非真空状态，以至于真空泵油倒吸到分子筛和真空室内，造成大事故。
加光电倍增管高压
操作方法：
（1）将HV开关ON/OFF拨到ON状态。
（2）按压开关上面的RESET（复位）开关，HV指示灯亮表示光电倍增管的高压已注意：1）刚打开光谱仪至少要抽半个小时的真空，使光学室的真空达到6.67kPa0Torr)以下，或更少些。观察真空表Pointsetl指示灯亮（见图3-3），表示可以加高（Pointsetl——设置真空与HV联锁的值，即6.67kPa、50Torm)。Pointsetl指示灯不亮，加不压，真空与HV有连锁保护。
（3）真空度大于16kPa（120Tom)以上，不能加HV，否则会引起光电倍增管管
座跳火。

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作为一种快速、简便和的分析工具与手段，ICP-OES（电感耦合等离子体发射光谱仪）被广泛地应用在各种元素分析的领域。然而，目前商品化的ICP-OES，由于其内在结构和性能的局限，无法满足愈来愈复杂的元素分析需求。以其匠心的创新性设计，可的满足研发、工业、环保、石化、地质、生化等领域的用户需要，尤其适合复杂基体样品的分析。
仅从仪器的外观即可看出：不同于传统的ICP光谱仪。仪器左侧的部分是特的光学系统,它采用了专利的创新技术，具有的分辨率、准确度和稳定性。
可以方便的安装在任何实验室中，仪器的表面经过特殊的防腐处理，而且在整个进样室内部也覆盖有耐强腐蚀液体的保护膜。所有的部件和水电气接头都分别立放置，无须使用者拆装仪器，维护和保养更加方便。提供两种观测模式：轴向（水平）观测和径向（垂直）观测，新的帕邢-龙格光学系统在130nm到340nm波长范围内均可保持恒定的分辨率。
用途
可广泛适用于科研、冶金、机械、石化、环保、食品、地质、生化等愈来愈复杂的元素分析需求,以其匠心的创新性设计,尤其适合复杂基体样品的分析。
特点
的性能，完全满足复杂样品的分析
两种观测模式：轴向（水平）和径向（垂直）
样品进样系统全自动定位
秒维护的高频固态发生器可产生稳定的等离子体
特的光学系统可实现佳的分辨率
宽广的光谱范围130nm到770nm能提供合适的谱线选择
远紫外线区光学系统无需维护，降低运行成本

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SPECTROXSORT便携光谱仪采用新一代SDD硅漂移检测器提高了精度和稳定性的同时地缩短了检测时间2S，特别适合在用户现场进行大批量的金属材料成分分析、牌号鉴别和材料分选。
仪器特点
 采用特殊设计的SDD检测器
– 更快速的数据采集à更快速的结果显示
– 10倍于同类仪器的分辨率
– X光管超长的使用寿命
 没有基体限制，无须用户再进行曲线设置
 2秒钟即可分析多41种元素MgtoTh（Cr、Ni、Mn、Mo等）
 2秒钟即可获得实验室级别的检测结果
 10秒钟即可分析包括MgAl,Si,andP在内的轻元素，无须增加真空或氦气冲洗装置
 每次检测完毕后，仪器自动校准，斯派克的ICAL技术
 仪器前端激发孔带有保护快门，同时，快门兼具ICAL校准样品、保护检测器、防止误操作辐射泄漏等功能
-如无样品被检测，1秒钟内快门自动关闭-保护操作者及他人
 枪头和快门之间有安全箔膜，保护仪器内部
 枪头上的防护圈，防止射线散开

仪器计量仪器校准的优点与流程？仪器计量仪器校准利用光学成像原理进行观察、测量、记录和分析工作的计埴仪器，与其他机械、电子等仪 器相比较，其装配与调整（简称装调）工作具有如下特点：1.连接的牢固性机械零件和光学零件的连接庥具有足够的牢固性，同时又不致引起光学零件的变 形或产生内应力，以光学系统应有的成像质域。2.具有调节机构和调节的可能仪器的光学系统质W：、测tt机构精度以及仪器本身的工作精度，在现有条件下，只依靠 零件的制造精度是无法的，在装配过程中进行特殊的调节才能满足要求，
零件表面要求非常清洁，尤其是光学零件的表面。如果光学零件表面不清洁，则会影响 光学系统的透光性，减少通过仪器的光流，从而影响仪器的观察效果。若在成像面或成像面 附近有了污点，则会影响对H标的观察，甚至会造成错觉。