服务项目 |
腐蚀迁移,焊接不良,开路、短路 |
面向地区 |
全国 |
深圳PCB及PCBA失效分析检测——深圳安普检测
检测概述
APT TESTING
随着电子产品的高密度化及电子制造的无铅化，PCB及PCBA产品的技术水平、质量要求也面临严峻的挑战，PCB的设计与生产加工及组装过程中需要更严格的工艺与原材料的控制。目前由于尚处于技术和工艺的转型期，客户对PCB制程及组装的认识尚有较大差异，于是类似漏电、开路（线路、孔）、焊接不良、爆板分层之类的失效常常发生，常引起供应商与用户间的质量责任纠纷，为此导致了严重的经济损失。通过对PCB及PCBA的失效现象进行失效分析，通过一系列分析验证，找出失效原因，挖掘失效机理，对提高产品质量，改进生产工艺，仲裁失效事故有重要意义。
2、服务对象
印制电路板及组件（PCB&PCBA）生产商：确认产品质量情况，对产品生产过程中的各种问题进行分析，探究问题的根本机理，提供改进产品设计及工艺生产的参考意见；
印制电路板及组件（PCB&PCBA）供应商/经销商：控制进货质量，增加用户的使用信心，提升品牌价值；
印制电路板组件（PCBA）整机商：及时消除对生产过程中的潜在问题，提高制造产品的可靠性，降低责任风险。
3、产生效益
帮助材料生产商了解产品质量状况，对工艺现状分析及评价，优化改进产品研发方案及生产工艺；
查明电子组装中失效根本原因，提供有效的电子组装现场工艺改进方案，降低生产成本；
提高成品产品合格率及使用可靠性，降低维护维修成本，提升企业品牌和竞争力；
明确引起产品失效的责任方，为司法仲裁提供依据。
分析过的PCB/PCBA种类：
刚性印制板、挠性印制板、刚挠结合板、金属基板
通讯类PCBA、照明类PCBA
4、主要针对失效模式（但不限于）
1.爆板/分层/起泡/表面污染
2.开路、短路
3.焊接不良：焊盘上锡不良、引脚上锡不良
4.腐蚀迁移：电化学迁移、CAF
5、常用失效分析技术手段
无损检测：
：外观检查 | X射线透视检测 | 三维CT检测 |
C-SAM检测 | 红外热成像
热分析：
：差示扫描量热法（DSC）| 热机械分析（TMA）|
热重分析（TGA）|动态热机械分析（DMA）|
导热系数（稳态热流法、激光散射法）
表面元素分析：
扫描电镜及能谱分析（SEM/EDS）| 显微红外分析（FTIR）| 俄歇电子能谱分析（AES）| X射线光电子能谱分析（XPS）| 二次离子质谱分析（TOF-SIMS）
电性能测试：
击穿电压|耐电压|介电常数|电迁移
破坏性检测：染色及渗透检测|
切片分析：金相切片|聚焦离子束（FIB）制样|离子研磨（CP）制样
破坏性检测：
染色及渗透检测
切片分析：金相切片、聚焦离子束（FIB）制样、离子研磨
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