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GRGTEST破坏性物理分析(DPA)测试标准
●GJB128A-97半导体分⽴器件试验方法
●GJB360A-96电子及电⽓元件试验方法
●GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序
●GJB7243-2011电子元器件筛选技术要求
●GJB40247A-2006电子元器件破坏性物理分析方法
●QJ10003—2008进口元器件筛选指南
●MIL-STD-750D半导体分立器件试验方法
●MIL-STD-883G微电子器件试验方法和程序
广电计量集成电路失效分析实验室，配备了完善的DPA分析测试设备（如3D解析显微镜、X射线透射仪、超声扫描显微镜、场发射扫描电子显微镜、TEM透射电子显微镜、水汽分析仪、各类检漏仪等），具备非破坏性和破坏性测试的DPA分析能力。
广电计量DPA测试以预防失效为目的，防止有明显或潜在缺陷的元器件上机使用；确定元器件在设计和制造过程中存在的偏差和工艺缺陷；评价和验证供货方元器件的质量；提出批次处理意见和改进措施。
DPA分析技术可以快速发现潜在的材料、工艺等方面的缺陷,这些缺陷终导致元器件失效的时间是不确定的,多数为早期失效，但所引发的后果是严重的。
| 主营行业：仪器仪表检测 |
| 公司主营：产品检测服务,计量校准,环境可靠性测试,仪器仪表 |
| 主营地区：广州天河区 |
| 企业类型：国有企业 |
| 公司成立时间：2002-05-24 |
| 员工人数：501 - 1000 人 |
| 研发部门人数：301 - 500 人 |
| 经营模式：服务型 |
| 经营期限：2002-01-24 至 2032-01-01 |
| 最近年检时间：2021年 |
| 是否提供OEM：是 |
| 质量控制：第三方 |
| 公司邮编：510000 |
| 公司网站：https://www.grgtmall.com/ |
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