关键词 |
半导体材料微结构分析,微结构分析,离子束技术,半导体材料检测 |
面向地区 |
全国 |
服务范围
半导体材料、有机小分子材料、高分子材料、有机/无机杂化材料、无机非金属材料。
半导体材料微结构分析与评价,聚焦离子束技术分析
检测项目
（1）半导体材料元素成分分析：EDS 元素分析，X 射线光电子能谱（XPS）元素分析；
（2）半导体材料分子结构分析：FT-IR 红外光谱分析，X 射线衍射（XRD）光谱分析，核磁共振波普分析（H1NMR、C13NMR）；
（3）半导体材料微观形貌分析：双束聚焦离子束（DB FIB）切片分析，场发射扫描电镜（FESEM）微观形貌量测与观察，原子力显微镜（AFM）表面形貌观察。
相关资质
CNAS
服务背景
随着大规模集成电路的不断发展，芯片制程工艺日趋复杂，半导体材料微结构及成分异常阻碍着芯片良率的提高，为半导体及集成电路新工艺的实施带来了的挑战。
我们的优势
（1）芯片晶圆级剖面制备及电子学分析，基于聚焦离子束技术(DB-FIB)，对芯片局部区域进行切割，并实时进行电子学成像，可得到芯片剖面结构，成分等重要工艺信息；
（2）半导体制造相关材料理化特性分析，包括有机高分子材料、小分子材料、无机非⾦属材料的成分分析、分子结构分析等；
（3）半导体物料污染物分析方案的制定与实施。可帮助客户全面了解污染物的理化特性，包括：化学成分组成分析、成分含量分析、分子结构分析等物理与化学特性分析。
| 主营行业：仪器仪表检测 |
| 公司主营：产品检测服务,计量校准,环境可靠性测试,仪器仪表 |
| 主营地区：广州天河区 |
| 企业类型：国有企业 |
| 公司成立时间：2002-05-24 |
| 员工人数：501 - 1000 人 |
| 研发部门人数：301 - 500 人 |
| 经营模式：服务型 |
| 经营期限：2002-01-24 至 2032-01-01 |
| 最近年检时间：2021年 |
| 是否提供OEM：是 |
| 质量控制：第三方 |
| 公司邮编：510000 |
| 公司网站：https://www.grgtmall.com/ |
全国半导体材料微结构分析热销信息
