目的：电子元器件表面及内部缺陷检查及SMT制程改善&验证。
主要用途：是一种观察样品截面组织结构情况的常用的制样手段，
1、切片后的样品常用立体显微镜或者金相测量显微镜观察；
2、切片后的样品可以用于SEM/EDS扫描电镜与能谱观察形貌与分析成份；
3、作完无损检测如x-ray，SAM的样品所发现的疑似异常开裂、异物嵌入等情况，可以用切片的方法来观察验证；
4、切片后的样品可以与FIB联用，做更细微的显微切口观察。
切片的制作步骤﹕
1.取样：取样是指将板子上需要分析确认的部分切割下来。
2.固封：固封的目的是利用树脂的固化使切片紧固于压克力模中，以便于研磨，并且将孔内填满以防止出现研磨时孔铜翘起而造成的失真。
3.研磨：磨片是利用快速转动的砂纸的切削力将切片磨到所需观察的位置，为避免出现大小头以及磨过的现象，研磨时要均匀用力，并且不停的转动切片，过程中还
要不断观察以防止磨过，并在磨偏时及时作调整。
4.抛光：即使4000目的砂纸研磨后的划痕也会影响切片的观察，所以需要再进行抛光以砂纸研磨留下的划痕。
5.提供形貌照片：微蚀的作用是让各金属分界面显现出来，使我们可以对切片进行判读分析。
6.判读及照相：微蚀后的切片可以直接在显微镜下判读，判读是对切片进行质量分析，找出不良及分析原因。
切片分析:
切片的制作固然重要，但它只是一个基础，更重要的是切片的分析和判读。只有对切片做出正确的判读，我们才能找出发生的不良；而只有对不良切片做出正确的分析，才能给出正确有效的措施，降低损失和预防不良的再次发生。
切片技术主要是一种用于检查电子组件、电路板或机构件内部状况、焊接状况的分析手段。通常采用研磨的方法，使内部结构或缺陷暴露出来。
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