本节简单描述仪器校准实验室测量方案中采用的一些统计方法。
1受控过程
如果在某一过程中观察到的有变化均是由随机因素引起的，那么该过程就处于统计控制之中，相反地，如果某过程表现出一些由可确定因素引起的变化，那么该过程就不处于统计控制状态中。对于测量过程来说，若在一定时间内，同一项反复测量数据的发散量不随时间变化，并且数据中不出现突变，那么它就处于统计控制状态。
在测量方案中，包括仪器、参照标准及操作者在内的测量系统是一个需要控制的过程，其直接产品是测量本身。，只有当测量系统再受控状态下工作时，测量才有效。反之，一个失控过程中是不能够直接产品有效测量的，
2.历史数据
档实验室对其标准的不确定度严重估计不足时，若仅根据标准的校准值来对它赋值，往往会将测量系统引入失控状态，由此可看出历史数据的严重性，从以下两方面扩展开来讨论。
a当不考虑测量过程固有的长期变化时，对不确定度的估计就过低，这种长期变化将导致标准的校准值与过去的校准值之前的差异。
b由随机效应引起的标准偏差是判断过程是否受控的依据，当对它估计不足时，假失控标志出现的可能性也就随之增大
3.仪器校准
仪器校准有两种常见的工作定义。
a，为了调整仪器的性能使其与参考标准相吻合而金相的仪器和参考标准之前的比较。
b，为验证仪器性能与历史数据的一致性而进行的仪器和参考标准之前的比较。校准的目的大多是为了对本次校准与下一次校准之前这一段时间内的仪器性能进行预测，而这种预测只能建立在上述第二种校准定义问基础之上。
