商丘显微镜分析仪校验校准
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在平时仪器校正中，如果突然想调整仪器校正的周期，这个时候可能就会发现自己可能不会调整仪器校正或者是仪器校准的周期，也许自己知道一两个方法，但当时却发现不能运用在上面，这个时候可能就真的没有办法了，这个时候如果多知道一两个方法，然后再灵活的运用在上面可能就是个很好的选择了。下面我们就给大家普及几个调整仪器校正周期的基本的方法，让大家在调整周期的时候有多个选择，找到当时情况下简单的方法，希望对大家有一定的帮助。
1.〝使用中〞或〝黑箱〞测试法
这个方法为阶梯式及控制图法的变形，使用比较轻便的校准设备，然后再常常查核被选定的参数，对临界参数进行查验，如果发现结果超过正常的哪个界限，那么就是进行作完整的校准（当然还有一种就是除非实务经验丰富者，如果不是的话就不要轻易的选定适当的查核参数）。
2.历时法
初期开始的时候以工程直觉方式依类别（相似结构，期望信赖度与稳定度）给予一校准周期。每一类别在选定之周期内被送回来校准的仪器，发现超过误差或不符合的件数占此期间同一类别总数的比率，如果发现比率很高时，就缩短正调期（注：未明确提示比率多高，才算高）。
3.实际使用时数法
为历时法的变形方式，基本方法保持不变，但周期确认系以使用的小时计算。
4.控制图法
每次选择相同的校准点，将所量得的数据绘成图形（纵轴为测量值，横轴为时间）由图形上加以标出测量值散布及偏差情形，以决定如何调整校准周期（注：规范中未提示散布幅度或偏差幅度）
5.自动的或阶梯式的调整校准周期
以一定基本的程序，每次对设备项目进行校准，当发现在允差范围内时，在其后的校准周期加长，但若在允差范围外时，则缩短校准周期（注：规范中未提示，校准周期加长多久，或减短多少）
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