关键词 |
元器件破坏物理性分析,湖北破坏物理性分析,当地破坏物理性分析,元器件破坏物理性分析 |
面向地区 |
全国 |
广电计量破坏性物理分析(DPA)测试适用于集成电路芯片、电子元件、分立器件、机电类器件、线缆及接插件、微处理器、可编程逻辑器件、存储器、AD/DA、总线接⼝类、 通⽤数字电路、模拟开关、模拟器件、微波器件、电源类等。
GRGTEST破坏性物理分析(DPA)测试标准
●GJB128A-97半导体分⽴器件试验方法
●GJB360A-96电子及电⽓元件试验方法
●GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序
●GJB7243-2011电子元器件筛选技术要求
●GJB40247A-2006电子元器件破坏性物理分析方法
●QJ10003—2008进口元器件筛选指南
●MIL-STD-750D半导体分立器件试验方法
●MIL-STD-883G微电子器件试验方法和程序
破坏性物理分析DPA通常被航空航天工业用于将电子元件认证为“S”类。越来越多的商业应用正在使用破坏性物理分析DPA筛选来显着提高其产品在现场的可靠性。可靠性更高的电子元件通常需要长时间运行，几乎没有更换的机会。轨道卫星就是这种情况的好例子。满足“空间使用”要求的零件也用于难以更换和/或故障产生风险的应用。
广电计量斯对航空航天，商业，军事和应用中使用的材料进行了40多年的破坏性物理分析（DPA）。我们的设施，并通过了DLA认证，可满足各种MIL-STD测试要求。
| 主营行业：仪器仪表检测 |
| 公司主营：产品检测服务,计量校准,环境可靠性测试,仪器仪表 |
| 主营地区：广州天河区 |
| 企业类型：国有企业 |
| 公司成立时间：2002-05-24 |
| 员工人数：501 - 1000 人 |
| 研发部门人数：301 - 500 人 |
| 经营模式：服务型 |
| 经营期限：2002-01-24 至 2032-01-01 |
| 最近年检时间：2021年 |
| 是否提供OEM：是 |
| 质量控制：第三方 |
| 公司邮编：510000 |
| 公司网站：https://www.grgtmall.com/ |
