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pcb表面绝缘阻抗测试,SIR表面绝缘阻抗测试 |
面向地区 |
全国 |
离子迁移是由与溶液和电位有关的电化学现象所引起的,与从金属溶解反应、扩散和电泳中产生的金属离子移动反应及析出反应有关,发生过程可分为以下三种情况:
1.阳极反应(金属溶解)
2.阴极反应(金属或金属氧化物析出)
3.电极间发生反应(金属氧化物析出)
测试目的:
•变动电路板设计或布局 •更改清洁材料或工艺
•变更助焊剂和/或锡膏 •变更回流焊或波峰焊工艺
•使用新色敷形涂料或工艺 •考核裸板供应商资质
•基于可靠性的产品标定
在导电阳极丝(CAF)生长中,在锡/铅焊料下面的铜基底金属是金属离子的主要来源,该金属离子会在阳极产生电化学反应并沿着玻璃树脂界面进行迁移。在导电阳极丝(CAF)生长中,常见的阴离子是氯离子(可通过SEM扫描电镜/EDX能量色散X荧光光谱仪来测定),溴离子也可能被观测到。测试模型依靠于对温度,相对湿度和电压的失效率来研发(见参考文献11)。导电阳极丝(CAF)的形成可通过较低的电压如50V的直流电来观测。
主营行业:检测服务 |
公司主营:零件清洁度测,可靠性及量测,声压级声功率检测,材料检测--> |
主营地区:深圳、昆山、成都、武汉、烟台、郑州等 |
企业类型:有限责任公司 |
公司成立时间:1996-01-01 |
员工人数:1000 人以上 |
研发部门人数:201 - 300 人 |
经营模式:服务型 |
经营期限:1949-01-01 至 2032-01-01 |
最近年检时间:2022年 |
是否提供OEM:否 |
公司邮编:215300 |
公司电话:0512-57785888-76633 |
公司邮箱:youerhx_ksmarket@126.com |
公司网站:cmc.foxconn.com |
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