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宁波SIR表面绝缘阻抗测试自有实验室-离子迁移测试

更新时间:2024-05-14 04:03:10 编号:6929sh8luac66d
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杨先生

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关键词
pcb表面绝缘阻抗测试,SIR表面绝缘阻抗测试
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全国

宁波SIR表面绝缘阻抗测试自有实验室-离子迁移测试

离子迁移是由与溶液和电位有关的电化学现象所引起的,与从金属溶解反应、扩散和电泳中产生的金属离子移动反应及析出反应有关,发生过程可分为以下三种情况:
1.阳极反应(金属溶解)
2.阴极反应(金属或金属氧化物析出)
3.电极间发生反应(金属氧化物析出)

测试目的:
     •变动电路板设计或布局         •更改清洁材料或工艺
       •变更助焊剂和/或锡膏           •变更回流焊或波峰焊工艺
       •使用新色敷形涂料或工艺     •考核裸板供应商资质
       •基于可靠性的产品标定

在导电阳极丝(CAF)生长中,在锡/铅焊料下面的铜基底金属是金属离子的主要来源,该金属离子会在阳极产生电化学反应并沿着玻璃树脂界面进行迁移。在导电阳极丝(CAF)生长中,常见的阴离子是氯离子(可通过SEM扫描电镜/EDX能量色散X荧光光谱仪来测定),溴离子也可能被观测到。测试模型依靠于对温度,相对湿度和电压的失效率来研发(见参考文献11)。导电阳极丝(CAF)的形成可通过较低的电压如50V的直流电来观测。

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详细资料

主营行业:检测服务
公司主营:零件清洁度测,可靠性及量测,声压级声功率检测,材料检测
主营地区:深圳、昆山、成都、武汉、烟台、郑州等
企业类型:有限责任公司
公司成立时间:1996-01-01
员工人数:1000 人以上
研发部门人数:201 - 300 人
经营模式:服务型
经营期限:1949-01-01 至 2032-01-01
最近年检时间:2022年
是否提供OEM:
公司邮编:215300
公司电话:0512-57785888-76633
公司邮箱:youerhx_ksmarket@126.com
公司网站:cmc.foxconn.com
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