酒泉肃北县压力变送器校准-第三方检测校准机构

以前的频率表都是带有附加装置的，比较笨重。现在我公司普遍使用一种无附加装置的频率表，由于产品没有技术图纸，给维修带来很大麻烦，本人测绘了此表的电路，现将此表修理经验介绍如下:

　　一、电路原理

　　见图1，R1为限流电阻，D1为6只稳压二极管两两相背串接组成双向稳压管。总稳压值为±36V，由接线柱来的100V交流正弦电压被D1切去上、下部分变成如图2所示波形，峰峰值为稳定的36V。从而为仪表提供一个不受外界电压变化影响的稳定电压，D4为整流二极管，在C3上形成一个负偏压，其值约为波形的负峰值36V。C1为检频元件，当输入电压频率升高时，D1两端波形的频率也升高，从而使流过C1的电流增大，经D2、D3整流、C2滤波，送给表头M的电流也增加，M指示变大。同理，当输入电压频率降低时，M指示变小。这样，仪表的指示就随输入的交流电频率的变化而变化，完成测频的功能。R2为表头提供负偏流，R3为误差调整电阻。　二、仪表的检修

　　由于此表与以往的带附加装置的频率表结构不同，所以此表在检定和维修时应注意:
　　1.此表无附加装置，所以直接接入被测电路。
　　2.当输入电压较小时(如32V)，频率表指针打到上限，容易损坏表头，所以要直接给出额定电压。
　　3.当输入电压偏离100V较大时误差较大。
　　4.当输入电压谐波分量较大时误差也较大。
　　5.抗震性能差，强烈振动容易震断吊丝，所以应轻拿轻放。

　　检查时一般先检查电路元件，测D1两端是否有约30V电压(用有效值电压表)，若达不到则可能是D1或R1损坏，测C3两端是否有36V电压，如无则检查D2、D3的好坏，一般D1、R1损坏较多。表头的检查可直观看吊丝是否断开，吊丝可用0.013mm厚、0.15mm宽铍青铜吊丝代用，代换时上下同时更换，否则将造成线性不良。然后再微调一下平衡。

　　校准时，如果有误差应调节面板上的调节电位器，再配合R3电位器反复调节，检定方法可参照通用仪表检定规程。

在检定和使用心电图机时，经常出现热笔描记图形过粗或过细、干扰、基线漂移过大、阻尼不正常等故障，严重影响心电图机使用，产生原因和排除方法归纳如下:

　　一、描记图形过粗或过细

　　原因:温度过高或过低。
　　调修方法:调整热笔温度，调节电位器使热电笔温度适当即可。

　　二、干扰

　　在心电图机走纸记录时，心电图上叠加有一定幅度和有规律的正弦波或叠加一种无规律的毛刺，即为干扰。分为以下几种:
　　1.导联开关置“0”位时有干扰
　　，判断干扰是50Hz还是低频。如果是50Hz干扰一般为导联输入部分有断线、脱焊现象，即:(1)导联线断线；(2)导联开关到放大板的输入线插头座断脚、脱焊或接线断。如果表现为低频干扰，则检查电刷上刷毛是否齐整；是否与不该接触处有电气接触，然后，再检查电机线圈是否有断线。

　　2.工作时有干扰
　　(1)导联线断、隐断或漏电均可引起干扰。但一般因导联线断，引起的干扰表现为只有在相关导联状态时才会引入干扰。简单也的办法是更换导联线，但如果有修复价值的好从断处或漏电处剪开后，再重新焊接。(2)导联开关接触不良、接线断线、脱焊等均会引入干扰。(3)记录器或热笔线圈与机壳接触也可能引入干扰。

　　3.其它干扰
　　电源纹波过大、滤波电容损坏，内部应该接地处未接好，内部走线不合理或屏蔽不良等都可引入干扰。

　　三、基线飘移

　　导联开关在“0”位时，记录器描绘的基线不水平而有缓慢上升或下降，即为基线飘移。调修方法:用酒精擦拭放大板上各插头、插座，以防有漏电现象。待完全干燥后，再观察基线漂移是否仍然过大。随后检查前置放大器与电压放大器之间耦合电容是否漏电。然后，再检查封闭继电器电路。用线路分割法，断开封闭继电器电路，如漂移达到标准要求，则故障为封闭继电器损坏或漏电，应更换。后，检查场效应管。先用替代法，以同型号场效应管分别替换前级两只场效应管，如故障消除则前级中某一只场效应管(或两只)输入电阻不稳，应更换。但用两只各项参数均比较接近的场效应管将原来两只都换下，否则，若场效管不对称，对心电图机其它指标将有很大影响。如飘移仍然过大。一般为后级场效应管某只输入电阻不稳定，同法替换即可。

　　四、阻尼不正

　　①描1mV定标电压波形时，波形无上冲且有圆角即为阻尼过大。调修方法:调整阻尼调节电位器使阻尼适中。
　　②描1mV定标电压波形时，波形上冲过大，即为阻尼过小。调修方法:调整阻尼调节电位器使阻尼适中。若阻尼过小且不可调整时，先检查阻尼调节电位器是否脱焊、损坏或接触不良。如果损坏则应予更换。如未损坏，则故障为记录失磁造成，应更换记录器或重新上磁。
　　③如果阻尼不均匀，一般为热笔放置不平，热笔定位架与导轨间有较大间隙，调修时，予以调整。
　　心电图机是比较精密的仪器，使用时应避开潮湿、震动、强电场、磁场等场所，心电图室应尽量远离X光室、理疗室、电梯等以减少和避免干扰。

绝缘电阻测量仪主要是用来测量变压器、电机、电缆及其它电器设备或绝缘材料的绝缘电阻。它具有携带方便，使用简单等优点，被广泛使用。下面就其常见的两种故障现象作一简单分析。

　　1.电压超差且不稳
　　端钮电压超出额定电压规定的范围并且不稳定，是绝缘电阻测量仪使用一段时间后常见的故障。
　　(1)如果误差较小，可以判定电路无故障，只是由于调速系统的调速轮与触头接触面上有油污，使摩擦系数发生了变化，或调速弹簧拉力变化，使磁铁组合磁能受到损失，从而使端钮电压发生了变化。此时，只需用酒精清洁一下调速轮或适当调整一下弹簧拉力，即可使端钮电压达到规定的范围。

　　(2)如果端钮电压低于规定值较多且摇动发电机感觉很费力，则说明发电机的输出电路有短路。
　　A.断开整流电路后摇动手柄，感觉仍很沉，电压值也较低，说明发电机的固定线圈定子发生了层间、匝间短路；
　　B.断开整流电路摇起来恢复正常，说明整流电路发生了故障。因为，整流二极管及硅堆反向电流变大或反向击穿短路，或倍压电容器、滤波电容器击穿，印刷电路板绝缘下降等，都可能引起端钮电压变低，不稳。应更换掉损坏的器件。

　　2.开路时不到∞，短路时不到0
　　此故障一般发生在测量机构。

　　(1)开路时不到∞，短路时0位超出。是电压线圈短路造成的。由于电压线圈短路后与补偿线圈的电气力矩失去了平衡，同时，短路的电压线圈与电流线圈的电气力矩也失去了平衡。从而造成了开路不到∞，短路0位超出的故障情况。

　　(2)开路时∞超出，短路时不到0。前者是补偿线圈短路造成的，后者多由于电流线圈短路引起。

　　(3)开路时到∞，短路时指针不动。说明电流线圈断路或电流回路断路。

　　(4)开路，短路时指针均不动，则说明电压回路及电流回路均有断路情况。因为电流线圈和电压线圈的材料均为特细的漆包铜线，经长期使用后，难免发生锈蚀造成断路。

　　以上两种故障，是绝缘电阻测量仪的常见故障，查明了原因，就可以有针对性地进行调修了。

721型分光光度计是工厂、矿山、医院及科研单位的化验室，在可见光谱区范围内进行定量比色分析的常规仪器。仪器使用过程中出现故障较多的是钨灯稳压电路。本文主要讨论稳压电路的故障造成光源灯不亮及光强度无法调节的内容，具体分析如下。

　　仪器光源提供分析用单色光，若光源灯点不亮或光强度无法调节以及单色光不纯，都不能使该仪器正常工作和数据的准确可靠。

　　可见光区的光谱范围一般为(420～760)nm。常见的721型分光光度计使用的是12V25W的钨丝白炽灯。白炽灯的光通量和使用寿命在很大程度上取决于电压。电压增高，电功率按平方关系上升，温度显著上升，使钨的蒸发率急剧提高，从而使灯的寿命急剧下降。721型分光光度计的钨灯稳压电路，是采用运算放大器为放大环节，钨灯电压从3.7V～11.5V连续可调，其图如下:图中的分压电路R15+W1与R16+W2数值相仿。稳压源输出为负电压，点M电压接近于零，运算放大器2、3的电压都在零附近。流过R15、W1、R16和W2的是恒定电流。调节W2使钨灯得到可调节的稳定的负电压，它安装在仪器面板上,供调节透射比。由于钨灯在较低的电压下工作，从而有效地延命及降低整机的温升。由于调节而改变了电压，W2的阻值2kΩ调到大输出电压可达1.5V，调至阻值小输出电压约3.7V。
　　如果电位器断路，输出电压可升至电源电压20V，钨灯则特别亮且光强度无法调节。

　　由上述分析得出，721型分光光度计在使用中所出现的光源灯不亮或光强度无法调节的原因有以下几种:
　　1.光源灯焊头上无电压(接触端两点电压为3.7V～11.5V)。
　　2.稳压板上±12V、±8V、±0.7V输出的晶体管损坏，检查BG2、BG3、BG4、BG6、BG7。
　　3.稳压板上运算放大器或保护管BG11损坏。
　　4.面板调节器损坏。
　　5.运放器A1损坏。
　　6.稳压板上BG10损坏。

　　总之，它的主要故障发生在稳压电路上。如当BG9、BG10开路时，光源灯W不亮，BG10击穿短路时，将导致加在BG9基极与发射极之间的电压升高，BG9击穿短路时，光源灯W很亮，且不受旋钮调节。要想解决这个问题，可以在BG10加装散热帽，使光源灯W的稳压范围变窄，还可重新选择BG9、BG10的型号。

分光光度计点不稳定，常使用户头痛，甚至造成仪器无法使用。作为一名分光光度计的检修者，应如何修理这类问题呢？以下是笔者的几点经验。

　　1.查看光电管暗盒内是否受潮，看硅胶是否变色。对受潮较轻的仪器，只要将变色硅胶更换即可；而对于受潮较重的仪器，则还要用吹风机对暗盒内、外吹热风，吹风时要采取吹一会儿、停一会儿的方法，使潮气逐渐地从暗盒内跑掉，达到逐渐干燥的目的。经过这样处理，大部分仪器点会稳定下来。

　　2.经过以上处理后，有些仪器点不稳定问题仍然得不到解决，或有些仪器只是暂时得到解决，用户在过一段时间后，会反映问题依旧存在。这是由于其它原因造成的。当我们对光电管暗盒进行驱潮时，至少部分的改善了光电管的工作环境，有的光电管依然无法正常工作，而有的光电管在一段时间内，能够正常工作，然而并未真正解决问题。此时极有可能是由于光电管老化造成性能下降引起的。所以，对暗盒进行干燥，不能或者只能暂时解决问题，此时，检修人员要根据仪器光电管的型号、规格等，到厂家订购一相同的光电管换上，同时要注意解决暗盒内干燥问题。一般，均能使仪器正常工作。

　　3.在检修此类问题时，虽然产生的原因主要是暗盒受潮，或光电管性能变差，但也要检查光源灯稳定问题。这也很简单，只要打开顶盖，注意观察光源灯是否有忽明忽暗的现象，然后再借助万用表，对灯两端电源进行检测，看是否有变化。若是光源灯不稳定，严重者肉眼可直接观测出光源灯是忽明忽暗的，轻者也可用万用表检出。一旦发现原因是由于光源灯不稳定造成的，则可换一个灯炮或是对稳压线路进行修理。

　　4.后一个原因，就是微电流放大器内有电子元件性能变差，这是难处理的一个问题。对于721型分光光度计，只要将其微电流放大器内3DJ6F场效应管更换即可；若是751GW型等复杂的分光光度计，则要借助厂方的力量进行修理。

本文根据实际工作经验，总结出氢火焰离子检测器的一些常见故障及其解决办法，以帮助使用者掌握一些仪器故障原因的分析及维修方法。

　　氢火焰离子化检测器(FID)是目前使用广泛的检测器，它能检测大多数有机物，灵敏度高，响应速度快，线性范围宽，恒温要求不高，结构简单，操作方便。在其使用过程中，由于使用不当或者一些意外因素，也经常会出现故障。常见故障有:1.氢焰点不着火，或者反复熄灭；2.放大器不能调零；3.基线漂移、噪声大；4.进样后不出峰；5.灵敏度显著降低等。现对故障的查找及解决方法分述如下:

　　1.由于点火装置使用频繁，无论是高压打火还是低压加热，都容易造成损耗，所以点不着火或者反复熄灭是一个常见故障。对此应检查连接导线并打开离子室顶盖，对低压点火可直接观察热丝是否发红，热丝接地是否接触不良。对高压点火可从检测器中取出在外面打火，调节打火距离并检查充电电容是否漏电而使放电电压不够。如果点火装置正常但仍不能点火或点火后反复熄灭，就必然是气路有问题，例如氢气漏气、氢气流量不足、氢气载气流量比太低、喷嘴堵塞或部分堵塞等。

　　2.整个氢焰检测电路不能调零。检查记录仪是否完好，当衰减拨到∞档或把信号输出线路断开时，记录笔应当回到零点。接着把检测器与放大器连接的同轴端卸下，检查放大器本身能否调零。如果不能调零，证明放大器有毛病，就应检查调频电位器是否失灵，负反馈线是否接通，尤其要检查级的工作是否正常，整个管子是否受潮或污染。对于长期使用的旧设备应考虑更换管子。如果放大器可以调零则可肯定它是好的。点火后记录笔又偏移很远，就应该检查气路系统和检测器，气体流量是否合适，固定液是否严重流失，系统是否污染或漏气等。

　　3.基线漂移或噪声较大是不能进样分析的。这时应判断漂移和噪声是来自放大器还是检测器。当衰减拨到∞档或者信号输出线段，开始记录笔并不抖动，证明记录仪是好的。然后依次改变衰减档，若噪声依次变化，证明衰减器是好的；若噪声并不随之改变，则连接电缆和衰减器可能有接触不良或污染。接着让放大器空白运转，如果噪声继续存在，说明放大器本身有问题。此时应仔细检查放大器电源是否有交流声，接触部位是否接触良好，级探头是否污染受潮或屏蔽不好。若晶体管或集成运算放大器的噪声太大，则应更换新器件。如果放大器的噪声很小但连接检测器后噪声增加、基流过大，说明气路系统有问题。可分别断开氢气源、空气源、载气源进行检查。氢气流量太高、空气流量太低、或者柱温太高、控温准确度低等都会使噪声增大。采取措施使噪声降低后，可用基流补偿旋钮进行补偿。

　　4.如果进样后不能出峰，情况很复杂，需要对很多部位分别进行细致的检查。主要从气路系统和离子室两方面着手。在气路系统方面有可能是管路、注射器，或者是气化室漏样造成的。也有可能是由于样品被色谱柱或者连接管路吸附或吸收。在离子室中有可能存在的问题是收集极被污染、收集极位置发生偏离、喷嘴堵塞或部分堵塞、由于喷嘴的损坏导致漏样、极化电压未加或偏低。

　　5.灵敏度的降低也是操作中经常出现的问题。有很多因素可以造成灵敏度的降低，如接触不良，氢气流量不是佳数值，空气流量太低、气路有漏洞等，这些都应当重新检查和调整。注射器、气化室、色谱柱接头、喷嘴等有可能漏气、漏样的部位发生泄漏，以及电极被污染都有可能发生灵敏度下降，需要逐一进行检查。

　　总之，对分析仪器来说，避免故障的主要的做法是正确的操作和调节，切忌盲目操作。对核心部位如离子室、微电流放大器等减少震动和碰撞，绝缘，根据不同的检测目的合理调节仪器的操作条件，并减少各种因素对仪器的污染和干扰。只有这样，才能减少故障发生的可能性。