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pcb表面绝缘阻抗测试,SIR表面绝缘阻抗测试 |
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SIR测试是表面绝缘电阻测试的简称,主要用于评估印制电路板、组件表面及周围相邻线路区域的表面清洁度(包括加工、制造过程的残留)对表面绝缘电阻的影响;评估产品使用物料(助焊剂、锡膏、阻焊膜等)的耐SIR能力及等级。
导电阳极丝(CAFs)现象和其他电化学迁移的不一样的地方如下:Conductive AnodicFilaments
(1 )迁移的金属是铜,不是铅或锡。
(2) 导电阳极丝是从阳极向阳极方向生长。
(3) 导电阳极丝是由金属盐类构成的,而不是由中性金属原子构成的。
SIR是一个测定基材表面两个金属导体间导电性方法。为了让一个绝缘电路板表面的导电电极间产生电化学移动,同时具备以下三个条件:
(1)有电荷载体(如离子)存在;
(2)有水存在以溶解离子物质,并维持离子物质在移动离子状态;
(3)在两个电极有电压以促成水层中的电子流。
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